Metrology and Measurement Systems

Metrology and Measurement Systems

SCIE
  • 期刊ISSN：0860-8229
  • 研究方向：工程技术
  • 影响因子：1.096
  • SCI类别：SCIE
  • 是否OA：No
  • 出版地：Poland
  • 年文章数：60
  • 涉及的研究方向：工程技术-仪器仪表
http://www.metrology.pg.gda.pl/
http://www.ncbi.nlm.nih.gov/nlmcatalog?term=0860-8229%5BISSN%5D
服务明细 杂志推荐 同领域期刊
Metrology and Measurement Systems简介 Magazine introduction

  • 英文简介

    Metrology and Measurement Systems is an international journal, peer-reviewed, quarterly-published, launched in 1988; since 2001 it appears in English. The journal appears both in the paper form and in the electronic form on the platform Electronic Library, Polish Academy of Sciences http://journals.pan.pl/dlibra/journal/116082.

  • 中文简介

    计量和测量系统是国际期刊，同行评审，季刊出版，1988年发行；2001年起以英语出版。该期刊以纸质形式和电子形式出现在波兰科学院电子图书馆平台http://journals.pan.pl/dlibra/journal/116082上。

  • 中科院分区

    大类学科 分区 小类学科 分区 Top期刊 综述期刊
    工程技术 4区 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 仪器仪表 4区 否 否

  • JCR分区

    JCR分区等级 JCR所属学科 分区 影响因子
    Q4 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION Q4 1.009

  • 影响因子趋势图

    JCR分区趋势图

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