《电子测试》（半月刊）创刊于1978年，由北京自动测试技术研究所主办。北京市科学技术研究院主管，国内外公开发行的科技类专业刊物。
《电子测试》以介绍新电子技术和测试测量技术为主，秉承一贯的专业性和性的办刊宗旨，坚持前瞻性、技术性和实用性的编辑方针，为测试测量及自动控制业界的工程师和技术研发人员提供了全新的技术与应用和行业资讯。《电子测试》创刊于1983年，见证了中国电子测试测量业的发展历程。如何为国际和国内市场提供有竞争力的产品、掌握先进的测试测量技术一直以来深受测试测量领域工程师和研究者的关注，而为他们搭建沟通行业信息的平台，开创学术交流的广阔空间则正是《电子测试》创刊以来的核心使命。目前，众多科研院所、大专院校的科研精英和国内从事微电子行业和电子产品开发的科技人员已成为其忠实的读者群，我们的发行在严格坚持“质量大于数量”的前提下，目前已增加到四万册。
电子测试杂志栏目设置设计与研发、虚拟仪器技术、微处理器与编程器件的应用、新品评测特集、测试工具与解决方案、新软件、新硬件、产品咨询与行业新闻
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